Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1161306021 |
| Titel | Bezugsflächenfindung und Rekonstruktion von Fehlstellen zur Auswertung optisch gemessener strukturierter Oberflächen / Nils Langholz |
| Person(en) | Langholz, Nils (Verfasser) |
| Ausgabe | 1. Auflage |
| Verlag | Aachen : Shaker |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2008 |
| Umfang/Format | Online-Ressource, 194 Seiten : 69 Illustrationen (pdf) |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Langholz, Nils: Bezugsflächenfindung und Rekonstruktion von Fehlstellen zur Auswertung optisch gemessener strukturierter Oberflächen |
| Hochschulschrift | Dissertation, Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, 2007 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:101:1-2018061707015042885838 |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-8322-7640-9 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Berichte aus dem Institut für Mess- und Regelungstechnik der Universität Hannover |
| Anmerkungen | Lizenzpflichtig |
| Schlagwörter | Technische Oberfläche ; Rauigkeitsmessung ; Optische Messung ; Dreidimensionale Rekonstruktion |
| DDC-Notation | 620.440287 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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