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Titel A Deep Study of Resistance Switching Phenomena in TaOx ReRAM Cells: System-Theoretic Dynamic Route Map Analysis and Experimental Verification / Alon Ascoli, Stephan Menzel, Vikas Rana, Tim Kempen, Ioannis Messaris, Ahmet Samil Demirkol, Michael Schulten, Anne Siemon, Ronald Tetzlaff
Person(en) Ascoli, Alon (Verfasser)
Menzel, Stephan (Verfasser)
Rana, Vikas (Verfasser)
Kempen, Tim (Verfasser)
Messaris, Ioannis (Verfasser)
Demirkol, Ahmet Samil (Verfasser)
Schulten, Michael (Verfasser)
Siemon, Anne (Verfasser)
Tetzlaff, Ronald (Verfasser)
Verlag Aachen : Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2022
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2023052401333485633543
DOI: 10.18154/RWTH-2022-08441
URL https://publications.rwth-aachen.de/record/852888 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Anmerkungen In: 10.1002/aelm.202200182
DDC-Notation 621.397 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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