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Artikel
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1277372209
Titel Plasma Diagnostics Using K‐Line Emission Profiles of Silicon
Person(en) Chen, Y. (Verfasser)
Sengebusch, A. (Verfasser)
Reinholz, H. (Verfasser)
Röpke, Gerd (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2023010607122194429216
DOI: 10.1002/ctpp.201400010
URL https://doi.org/10.1002/ctpp.201400010
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 10.10.2014
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Contributions to plasma physics (Bd. 54, 2014, Nr. 9: 772-782. 11 S.)

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