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Ergebnis der Suche nach: Thomas and Müller



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Titel Origin of Ferroelectric Phase in Undoped HfO₂ Films Deposited by Sputtering - CORRECTION / Terence Mittmann, Monica Materano, Patrick D. Lomenzo, Min Hyuk Park, Igor Stolichnov, Matteo Cavalieri, Chuanzhen Zhou, Ching-Chang Chung, Jacob L. Jones, Thomas Szyjka, Martina Müller, Alfred Kersch, Thomas Mikolajick, Uwe Schroeder
Person(en) Mittmann, Terence (Verfasser)
Materano, Monica (Verfasser)
Lomenzo, Patrick D. (Verfasser)
Park, Min Hyuk (Verfasser)
Stolichnov, Igor (Verfasser)
Cavalieri, Matteo (Verfasser)
Zhou, Chuanzhen (Verfasser)
Chung, Ching-Chang (Verfasser)
Jones, Jacob L. (Verfasser)
Szyjka, Thomas (Verfasser)
Müller, Martina (Verfasser)
Kersch, Alfred (Verfasser)
Mikolajick, Thomas (Verfasser)
Schroeder, Uwe (Verfasser)
Verlag Dresden : Technische Universität Dresden
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2022
Umfang/Format Online-Ressource
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bsz:14-qucosa2-805249
URL (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Anmerkungen In: Advanced Electronic Materials, Erscheinungsjahr: 2019, Jahrgang: 6, Heft: 20, Seiten: 1901528-1901528, E-ISSN: 2199-160X
DDC-Notation 537.2 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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