Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1272340767 |
| Veranstaltung | IEEE Microelectronics Design & Test Symposium (31. : 2022 : Online) |
| Andere Namen |
Microelectronics Design and Test Symposium (31. : 2022 : Online) IEEE Microelectronic Design and Test Symposium (31. : 2022 : Online) MDTS (31. : 2022 : Online) |
| Zeit | 23.05.2022-26.05.2022 |
| Land | Sonstiges Ausland, Unbekanntes Land (ZZ) |
| Weitere Angaben | Aufgrund der COVID-19-Pandemie als Online-Konferenz abgehalten |
| Beziehungen zu Organisationen |
Sponsor: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Schenectady Section Sponsor: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Region Northeastern USA |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

