Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Pattern Recognition"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1388024756 |
| Titel | Efficient finetuning of foundation model combined with few-shot learning improves pattern recognition in histopathology / by Ayk Jessen, Christoph Blattgerste, Maximilian Legnar, Zoran V. Popovic, Stefan Porubsky, Cleo-Aron Weis |
| Person(en) |
Jessen, Ayk (Verfasser) Blattgerste, Christoph (Verfasser) Legnar, Maximilian (Verfasser) Popovic, Zoran V (Verfasser) Porubský, Štefan (Verfasser) Weis, Cleo-Aron Thias (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | 1 Online-Ressource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2601262118423.656471165876 DOI: 10.1007/s00428-025-04351-8 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s00428-025-04351-8 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2025 |
| DDC-Notation | 006.42 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Virchows Archiv (27.11.2025: 1-11) |
| Sachgruppe(n) | 004 Informatik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

