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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Strukturbestimmung an ultradünnen SiO2-Filmen auf 4H-SiC(0001) mittels Photoelektronenspektroskopie und -beugung / vorgelegt von Mark Schürmann
Person(en) Schürmann, Mark (Verfasser)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2005
Umfang/Format Online-Ressource, ca. 5,1 MB
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Schürmann, Mark: Strukturbestimmung an ultradünnen SiO2-Filmen auf 4H-SiC(0001) mittels Photoelektronenspektroskopie und -beugung
Hochschulschrift Dortmund, Techn. Univ., Diss., 2005
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:hbz:290-2003/21664-2
Handle: 2003/21664
URL http://eldorado.tu-dortmund.de:8080/bitstream/2003/21664/1/Dissertation.pdf (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Deutsch (ger)
DDC-Notation 537.6226 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 530 Physik

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