Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/998033820 |
Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | Strukturbestimmung an ultradünnen SiO2-Filmen auf 4H-SiC(0001) mittels Photoelektronenspektroskopie und -beugung / vorgelegt von Mark Schürmann |
Person(en) | Schürmann, Mark (Verfasser) |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2005 |
Umfang/Format | Online-Ressource, ca. 5,1 MB |
Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Schürmann, Mark: Strukturbestimmung an ultradünnen SiO2-Filmen auf 4H-SiC(0001) mittels Photoelektronenspektroskopie und -beugung |
Hochschulschrift | Dortmund, Techn. Univ., Diss., 2005 |
Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:hbz:290-2003/21664-2 Handle: 2003/21664 |
URL | http://eldorado.tu-dortmund.de:8080/bitstream/2003/21664/1/Dissertation.pdf (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
Sprache(n) | Deutsch (ger) |
DDC-Notation | 537.6226 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 530 Physik |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
