Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Trade-off"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1270656899 |
| Titel | Synergistically Enhanced Performance and Reliability of Abrupt Metal‐Oxide Heterojunction Transistor |
| Person(en) |
Wang, Pengfei (Verfasser) Yang, Huan (Verfasser) Li, Jiye (Verfasser) Zhang, Xiaohui (Verfasser) Wang, Lei (Verfasser) Xiao, Juncheng (Verfasser) Zhao, Bin (Verfasser) Zhang, Shengdong (Verfasser) Lu, Lei (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2022101915063456357653 DOI: 10.1002/aelm.202200807 |
| URL | https://doi.org/10.1002/aelm.202200807 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 18.10.2022 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Advanced electronic materials (18.10.2022. 8 S.) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

