Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=620.1*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1257575759 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials / Xingchen Dong |
| Person(en) | Dong, Xingchen (Verfasser) |
| Organisation(en) | Shaker Verlag (Verlag) |
| Ausgabe | 1. Auflage |
| Verlag | Düren : Shaker |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2022 |
| Umfang/Format | Online-Ressource, 173 Seiten : 60 Illustrationen (pdf) |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Dong, Xingchen: Hyperspectral imaging microscopy for atomic layer mapping of two-dimensional materials |
| Hochschulschrift | Dissertation, Technische Universität München, 2021 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:101:1-2022051505234745736704 |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-8440-8517-4 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Reports on Measurement and Sensor Systems |
| Schlagwörter | Graphen ; Übergangsmetalldichalkogenide ; Schwarzer Phosphor ; Mikroskopie ; Hyperspektraler Sensor ; Bildverarbeitung |
| DDC-Notation | 620.1127 [DDC23ger]; 621.367 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau ; 621.3 Elektrotechnik, Elektronik ; 540 Chemie |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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