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Online Ressourcen
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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel On the Sizing of Analog Integrated Circuits towards Lifetime Robustness / Xin Pan. Gutachter: Doris Schmitt-Landsiedel ; Helmut Gräb. Betreuer: Helmut Gräb
Person(en) Pan, Xin (Verfasser)
Gräb, Helmut (Akademischer Betreuer)
Schmitt-Landsiedel, Doris (Akademischer Betreuer)
Verlag München : Universitätsbibliothek der TU München
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2013
Umfang/Format Online-Ressource
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: On the sizing of analog integrated circuits towards lifetime robustness
Hochschulschrift München, Technische Universität München, Diss., 2013
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bvb:91-diss-20130730-1119272-0-8
URL http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bvb:91-diss-20130730-1119272-0-8 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Analoge integrierte Schaltung ; Robustheit ; Lebensdauer
DDC-Notation 621.381548 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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