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Titel Analytical Models for the Evaluation of Resistive Short Defect Detectability in Presence of Process Variations: Application to 28nm Bulk and FDSOI Technologies / by Amit Karel, Florence Azaïs, Mariane Comte, Jean-Marc Gallière, Michel Renovell
Person(en) Karel, Amit (Verfasser)
Azaïs, Florence (Verfasser)
Comte, Mariane (Verfasser)
Gallière, Jean-Marc (Verfasser)
Renovell, Michel (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2019040820260009150537
DOI: 10.1007/s10836-019-05776-1
URL https://doi.org/10.1007/s10836-019-05776-1
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2019
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Journal of electronic testing (Bd. 35, 2.2.2019, Nr. 1, date:2.2019: 59-75)
Sachgruppe(n) 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

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