Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Artikel
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1355252474
Titel Quantifying the Reliability Performance of a Guided Wave-Based SHM System Using Piezoelectric Wafer Actuator Sensors
Person(en) Eiras, Jesus N. (Verfasser)
Gavérina, Ludovic (Verfasser)
Mastromatteo, Loïc (Verfasser)
Roche, Jean-Michel (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2502041154578.636693610377
DOI: 10.58286/29867
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 07.2024
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: E-Journal of nondestructive testing (Bd. 29, 2024, Nr. 7)

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