Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1271962314 |
| Titel | EMPIR-Projekt NanoXSpot: Neue Normentwürfe für die Brennfleckmessung an Röntgenröhren im Makro-, Mikro- und Nanometerbereich für Hersteller und Anwender / U. Ewert, Gerd-Rüdiger Jaenisch, David Schumacher, B. Bircher, F. Meli, A. Deresch |
| Person(en) |
Ewert, U. (Verfasser) Jaenisch, Gerd-Rüdiger (Verfasser) Schumacher, David (Verfasser) Bircher, B. (Verfasser) Meli, F. (Verfasser) Deresch, A. (Verfasser) |
| Verlag | Berlin : Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2022 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:kobv:b43-561029 |
| URL | (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Anmerkungen | In: DGZfP-Jahrestagung, Kassel, Germany, 23.05.2022 - 25.05.2022 |
| Schlagwörter | Mikrosystemtechnik* ; Nanometerbereich* ; Messung* ; Schweiz* (*maschinell ermittelt) |
| DDC-Notation | 620.1127 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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