Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1029748772 |
| Titel | Lock-in Thermography : Basics and Use for Functional Diagnostics of Electronic Components |
| Person(en) |
Breitenstein, Otwin (Verfasser) Langenkamp, Martin (Verfasser) |
| Verlag | Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2003 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Breitenstein, Otwin: Lock-in thermography |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:1111-201301152411 DOI: 10.1007/978-3-662-08396-3 |
| URL | https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-662-08396-3 (Verlag) |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-662-08396-3 |
| EAN | 9783662083963 |
| Anmerkungen | Lizenzpflichtig |
| Schlagwörter | Infrarotthermographie |
| DDC-Notation | 621.362 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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