Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1009698362 |
Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | Development, validation, and application of semi-analytical interconnect models for efficient simulation of multilayer substrates / von Renato Rimolo-Donadio |
Person(en) | Rimolo-Donadio, Renato (Verfasser) |
Verlag | Berlin : Logos |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2011 |
Umfang/Format | XXII, 198 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cm |
Hochschulschrift | Hamburg, Techn. Univ., Diss., 2010 |
ISBN/Einband/Preis | 978-3-8325-2776-1 kart. : EUR 37.50 (DE), EUR 38.60 (AT), sfr 66.70 (freier Pr.) |
EAN | 9783832527761 |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Schlagwörter | Mehrschichtleiterplatte ; Substrat <Mikroelektronik> ; Durchkontaktieren ; Halbleitergehäuse ; Leitungstheorie ; Elektromagnetische Verträglichkeit ; Simulation |
DDC-Notation | 621.381531 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
Weiterführende Informationen |
Inhaltsverzeichnis Inhaltstext |
Frankfurt |
Signatur: 2011 A 32173
Bereitstellung in Frankfurt |
Leipzig |
Signatur: 2011 A 40288
Bereitstellung in Leipzig |
