Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=620.1*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1122216041 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Quality rating of silicon wafers : a pattern recognition approach / Matthias Demant |
| Person(en) | Demant, Matthias (Verfasser) |
| Organisation(en) |
Fraunhofer ISE (Herausgeber) Fraunhofer IRB-Verlag (Verlag) |
| Verlag | Stuttgart : Fraunhofer Verlag |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: [2016] |
| Umfang/Format | iv, 173 Seiten : Illustrationen ; 21 cm |
| Hochschulschrift | Dissertation, Albert-Ludwigs-Universität Freiburg, 2016 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-8396-1124-1 Broschur : EUR 46.00 (DE), EUR 47.30 (AT), CHF 77.30 (freier Preis) 3-8396-1124-5 |
| Bestellnummer(n) | Bestellnummer: fhg-ise_76 |
| EAN | 9783839611241 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Solar energy and systems research |
| Schlagwörter | Wafer ; Silicium ; Werkstoffschädigung ; Mikroriss ; Bruchfestigkeit ; Photolumineszenzspektroskopie ; Mustererkennung ; Maschinelles Lernen ; Strom-Spannungs-Kennlinie ; Solarzelle |
| DDC-Notation | 621.381520287 [DDC22ger]; 620.1930426 [DDC22ger]; 621.312440284 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik ; 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Weiterführende Informationen |
Inhaltstext Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2017 A 63440
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2017 A 19320
Bereitstellung in Leipzig |
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