Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Jacobs" and "Karl"
![]() |
|
Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1332807208 |
Titel | Detecting defects that reduce breakdown voltage using machine learning and optical profilometry / by James C. Gallagher, Michael A. Mastro, Alan G. Jacobs, Robert. J. Kaplar, Karl D. Hobart, Travis J. Anderson |
Person(en) |
Gallagher, James C. (Verfasser) Mastro, Michael A. (Verfasser) Jacobs, Alan G. (Verfasser) Kaplar, Robert. J. (Verfasser) Hobart, Karl D. (Verfasser) Anderson, Travis J. (Verfasser) |
Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
Umfang/Format | 1 Online-Ressource. |
Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2406122113495.864026080105 DOI: 10.1038/s41598-024-57875-5 |
URL | https://doi.org/10.1038/s41598-024-57875-5 |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2024 |
DDC-Notation | 621.38152 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Beziehungen | Enthalten in: Scientific reports (Bd. 14, 28.3.2024, Nr. 1, date:12.2024: 1-9) |
Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
