Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1364513099 |
Titel | Optimizing defect detection in connections of power electronics by laser speckle photometry |
Person(en) |
Surner, Lennard (Verfasser) Chen, Lili (Verfasser) Bendjus, Beatrice (Verfasser) Gerlach, Gerald (Verfasser) |
Umfang/Format | Online-Ressource |
Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2505040349224.881876275702 DOI: 10.1515/teme-2025-0006 |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 08.04.2025 |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Beziehungen | Enthalten in: Technisches Messen (Bd. 92, 2025, Nr. 5: 152-158. 7 S.) |
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