Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Pattern Classification"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/122265623X |
| Titel | Ensemble convolutional neural networks with weighted majority for wafer bin map pattern classification / by Chia-Yu Hsu, Ju-Chien Chien |
| Person(en) |
Hsu, Chia-Yu (Verfasser) Chien, Ju-Chien (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2020120219522193403042 DOI: 10.1007/s10845-020-01687-7 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s10845-020-01687-7 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2020 |
| DDC-Notation | 006.32 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of intelligent manufacturing (17.10.2020: 1-14) |
| Sachgruppe(n) | 004 Informatik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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