Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Donnerstag, 11. September 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek öffnet wegen eines Beschäftigtentreffens an beiden Standorten erst um 15 Uhr. // Thursday, 11 September 2025: The German National Library will not open until 15:00 due to a staff meeting at both locations.
 
 

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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1020200987
Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Characterization of strained semiconductor structures using transmission electron microscopy / Vasfi Burak Özdöl
Person(en) Özdöl, Vasfi Burak (Verfasser)
Verlag Kiel : Universitätsbibliothek Kiel
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2011
Umfang/Format Online-Ressource
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Özdöl, Vasfi Burak: Characterization of strained semiconductor structures using transmission electron microscopy
Hochschulschrift Kiel, Christian-Albrechts-Universität, Diss., 2011
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:gbv:8-diss-68563
URL http://eldiss.uni-kiel.de/macau/receive/dissertation_diss_00006856 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Naturwissenschaften
DDC-Notation 530.411 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 530 Physik

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