Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/993006612 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Near-field microscopy : characterization of A-C:H:N particles and doped silicon with near-field microscopy / Jean-Sébastian Samson |
| Person(en) | Samson, Jean-Sébastien (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2008 |
| Umfang/Format | Online-Ressource, ca. 5,4 MB |
| Hochschulschrift | Bochum, Univ., Diss., 2008 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:hbz:294-24477 |
| URL | http://www-brs.ub.ruhr-uni-bochum.de/netahtml/HSS/Diss/SamsonJeanSebastien/diss.pdf (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| DDC-Notation | 502.820154357 [DDC22ger]; 620.50150282 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 500 Naturwissenschaften ; 540 Chemie ; 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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