Aging Degradation and Countermeasures in Deep-submicrometer Analog and Mixed Signal Integrated Circuits

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Link zu diesem Datensatz	https://d-nb.info/1024354938
Art des Inhalts	Hochschulschrift
Titel	Aging Degradation and Countermeasures in Deep-submicrometer Analog and Mixed Signal Integrated Circuits / Shailesh More. Gutachter: Helmut Gräb ; Doris Schmitt-Landsiedel. Betreuer: Doris Schmitt-Landsiedel
Person(en)	More, Shailesh (Verfasser) Schmitt-Landsiedel, Doris (Akademischer Betreuer) Gräb, Helmut (Akademischer Betreuer)
Verlag	München : Universitätsbibliothek der TU München
Zeitliche Einordnung	Erscheinungsdatum: 2012
Umfang/Format	Online-Ressource
Andere Ausgabe(n)	Erscheint auch als Druck-Ausgabe: More, Shailesh: Aging degradation and countermeasures in deep-submicrometer analog and mixed signal integrated circuits
Hochschulschrift	München, Technische Universität München, Diss., 2012
Persistent Identifier	URN: urn:nbn:de:bvb:91-diss-20120622-1091978-1-4
URL	http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bvb:91-diss-20120622-1091978-1-4 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n)	Englisch (eng)
DDC-Notation	621.38152 [DDC22ger]
Sachgruppe(n)	621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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