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Titel A Deep Study of Resistance Switching Phenomena in TaO x ReRAM Cells: System‐Theoretic Dynamic Route Map Analysis and Experimental Verification
Person(en) Ascoli, Alon (Verfasser)
Menzel, Stephan (Verfasser)
Rana, Vikas (Verfasser)
Kempen, Tim (Verfasser)
Messaris, Ioannis (Verfasser)
Demirkol, Ahmet Samil (Verfasser)
Schulten, Michael (Verfasser)
Siemon, Anne (Verfasser)
Tetzlaff, Ronald (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2022081115274929079828
DOI: 10.1002/aelm.202200182
URL https://doi.org/10.1002/aelm.202200182
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 11.08.2022
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Advanced electronic materials (11.08.2022. 31 S.)

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