Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Grill," and "Heinz"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1195869576 |
| Titel | Surface-near analyses of ultra thin silicon nitride layers by NRA, channeling RBS, FT IR ellipsometry and AFM / by A. Markwitz, H. Baumann, W. Grill, B. Heinz, A. Röseler, E. F. Krimmel, K. Bethge |
| Person(en) |
Markwitz, A. (Verfasser) Baumann, H. (Verfasser) Grill, W. (Verfasser) Heinz, B. (Verfasser) Röseler, A. (Verfasser) Krimmel, E. F. (Verfasser) Bethge, K. (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2019092807150187348889 DOI: 10.1007/BF00321360 |
| URL | https://doi.org/10.1007/BF00321360 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1995 |
| DDC-Notation | 530.417 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Fresenius' journal of analytical chemistry (Bd. 353, Nr. 5-8, date:1.1995: 734-739) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

