Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: swiRef=042609976
Treffer 9 von 52
|
|
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1286521181 |
| Art des Inhalts | Aufsatzsammlung |
| Titel | Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and Transistor Modeling : A Festschrift for Peter Heymann / R. Doerner et. al |
| Person(en) | al, R. Doerner et. (Verfasser) |
| Ausgabe | 1. Auflage |
| Verlag | Göttingen : Cuvillier Verlag |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2005 |
| Umfang/Format | Online-Ressource, 130 Seiten (pdf) |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Selected topics on microwave measurements, noise in devices and circuits, and transistor modeling |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:101:1-2023041811110712082927 |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-7369-1328-8 |
| EAN | 9783736913288 |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Schlagwörter |
Plasmadiagnostik Mikrowellenelektronik |
| DDC-Notation | 530.44 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
Treffer 9 von 52
Administration
