Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/983554242 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Dopant imaging and profiling of wide bandgap semiconductor devices / Marco Buzzo |
| Person(en) | Buzzo, Marco (Verfasser) |
| Ausgabe | 1. ed. |
| Verlag | Konstanz : Hartung-Gorre |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2007 |
| Umfang/Format | XI, 143 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cm |
| Hochschulschrift | Zugl.: Zürich, Techn. Hochsch., Diss., 2007 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-86628-124-0 kart. : EUR 64.00, sfr 125.20 3-86628-124-2 kart. : EUR 64.00, sfr 125.20 |
| EAN | 9783866281240 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Series in microelectronics ; Vol. 180 |
| Schlagwörter | Wide-bandgap Halbleiter ; Halbleiterbauelement ; Dotierungsprofil ; Sekundärelektronenspektroskopie |
| DDC-Notation | 537.6221 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Frankfurt |
Signatur: 2007 A 38862
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2007 A 47196
Bereitstellung in Leipzig |
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