Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/942172078 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Statistische Verfahren für den Test integrierter digitaler Schaltungen / von Wilfried Daehn |
| Person(en) | Daehn, Wilfried (Verfasser) |
| Ausgabe | [Mikrofiche-Ausg.] |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1993 |
| Umfang/Format | 141 Bl. : graph. Darst. |
| Hochschulschrift | Hannover, Univ., Habil.-Schr., 1993 |
| Anmerkungen | Mikrofiche-Ausg.: 2 Mikrofiches : 24x |
| Schlagwörter |
Digitale integrierte Schaltung ; Testen ; Fehlererkennung ; Schätzung Digitale integrierte Schaltung ; Selbsttest ; Datenkompression ; Fehlermaskierung Digitale integrierte Schaltung ; Testbarkeit ; Schätzung ; Zufallsgenerator |
| Sachgruppe(n) | 37 Elektrotechnik ; 27 Mathematik ; 15 Statistik |
| Frankfurt |
Signatur: H 1994 MF 2912
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: H 1994 MF 2912
Bereitstellung in Leipzig |
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