Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1016427891 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Characterization of strained semiconductor structures using transmission electron microscopy / Vasfi Burak Özdöl |
| Person(en) | Özdöl, Vasfi Burak (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2011 |
| Umfang/Format | II, 114 S. : Ill., graph. Darst. ; 30 cm |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Özdöl, Vasfi Burak: Characterization of strained semiconductor structures using transmission electron microscopy |
| Hochschulschrift | Kiel, Univ., Diss., 2011 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | Naturwissenschaften |
| DDC-Notation | 530.411 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Frankfurt |
Signatur: 2011 B 28459 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2011 B 36327 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |
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