Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Dresden"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1363150243 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Characterization, Analysis, and Modeling of Dynamic Radio-Frequency Large-Signal Operating Limits, and Long-Term Reliability and Degradation of Silicon-Germanium Heterojunction Bipolar Transistors / Christoph Weimer ; Gutachter: Michael Schröter, Tomislav Suligoj |
| Person(en) |
Weimer, Christoph (Verfasser) Schröter, Michael (Gutachter) Suligoj, Tomislav (Gutachter) |
| Organisation(en) | Vogt Verlag (Verlag) |
| Verlag | Dresden : Technische Universität Dresden |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2025 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Weimer, Christoph: Characterization, Analysis, and Modeling of Dynamic Radio-Frequency Large-Signal Operating Limits, and Long-Term Reliability and Degradation of Silicon-Germanium Heterojunction Bipolar Transistors |
| Hochschulschrift | Dissertation, Dresden, Technische Universität Dresden, 2024 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bsz:14-qucosa2-955309 |
| URL | (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | Germanium* ; Degradation <Technik>* ; Heterobipolartransistor* ; Silicium* ; HEMT* ; Leistungsverstärker* (*maschinell ermittelt) |
| DDC-Notation | 621.381528 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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