Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1042276676 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | On the Sizing of Analog Integrated Circuits towards Lifetime Robustness / Xin Pan. Gutachter: Doris Schmitt-Landsiedel ; Helmut Gräb. Betreuer: Helmut Gräb |
| Person(en) |
Pan, Xin (Verfasser) Gräb, Helmut (Akademischer Betreuer) Schmitt-Landsiedel, Doris (Akademischer Betreuer) |
| Verlag | München : Universitätsbibliothek der TU München |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2013 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: On the sizing of analog integrated circuits towards lifetime robustness |
| Hochschulschrift | München, Technische Universität München, Diss., 2013 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bvb:91-diss-20130730-1119272-0-8 |
| URL | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bvb:91-diss-20130730-1119272-0-8 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | Analoge integrierte Schaltung ; Robustheit ; Lebensdauer |
| DDC-Notation | 621.381548 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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