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Bücher
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/850767709
Titel Scanning electron microscopy : physics of image formation and analysis / Ludwig Reimer
Person(en) Reimer, Ludwig (Verfasser)
Verlag Berlin ; Heidelberg ; New York ; Tokyo : Springer
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1985
Umfang/Format XVIII, 457 S. : 247 Ill. u. graph. Darst. ; 24 cm
ISBN/Einband/Preis 978-3-540-13530-2 (Berlin ...) Pp. : DM 112.00
3-540-13530-8 (Berlin ...) Pp. : DM 112.00
978-0-387-13530-4 (New York ...) Pp.
0-387-13530-8 (New York ...) Pp.
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Springer series in optical sciences ; Vol. 45
Anmerkungen Literaturverz. S. 405 - 446
Status nach VGG: lieferbar
Schlagwörter Rasterelektronenmikroskopie
Sachgruppe(n) 29 Physik, Astronomie ; 37 Elektrotechnik
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: D 86/1127
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: SA 25595-45
Bereitstellung in Leipzig




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