Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Pattern Recognition"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1275812767 |
| Titel | CNN and ensemble learning based wafer map failure pattern recognition based on local property based features / by Minghao Piao, Cheng Hao Jin |
| Person(en) |
Piao, Minghao (Verfasser) Jin, Cheng Hao (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2022121621182610070475 DOI: 10.1007/s10845-022-02023-x |
| URL | https://doi.org/10.1007/s10845-022-02023-x |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2022 |
| DDC-Notation | 006.32 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of intelligent manufacturing (28.9.2022: 1-23) |
| Sachgruppe(n) | 004 Informatik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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