Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1079567046 |
| Organisation | Fachverband PCB and Electronic Systems. Arbeitsgruppe Zyklenfähigkeit/Temperaturwechseltest von Leiterplatten |
| Andere Namen |
Fachverband PCB and Electronic Systems. Arbeitsgruppe Zyklenfähigkeit, Temperaturwechseltest von Leiterplatten Fachverband PCB and Electronic Systems. Arbeitsgruppe Zyklenfähigkeit Fachverband PCB and Electronic Systems. Arbeitsgruppe Zyklenfähigkeit/Temperaturwechseltest (TWT) von Leiterplatten Arbeitsgruppe Zyklenfähigkeit/Temperaturwechseltest von Leiterplatten im Fachverband PCB and Electronic Systems im ZVEI Arbeitsgruppe Zyklenfähigkeit des VdL/ZVEI VdL/ZVEI Cycle Capability Working Group Fachverband PCB and Electronic Systems. Working Group Cycle Reliability/Temperature Chang Test of PCBs Fachverband PCB and Electronic Systems. Working Group Cycle Reliability, Temperature Chang Test of PCBs Fachverband PCB and Electronic Systems. Working Group Cycle Capability/Temperature Change Test of Printed Circuit Boards Fachverband PCB and Electronic Systems. Working Group Cycle Capability, Temperature Change Test of Printed Circuit Boards |
| Land | Hessen (XA-DE-HE) |
| Geografischer Bezug | Ort: Frankfurt am Main |
| Beziehungen zu Organisationen | Administrativ übergeordnet: Fachverband PCB and Electronic Systems |
| Typ | Organisation (kiz) |
| Beteiligt an |
1 Publikation
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