Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Tiefenprofilanalytik an Dünnschichtsolarzellen auf der Basis von amorphem Silizium mittels der Massenspektrometrie zerstäubter Neutralteilchen und der Sekundärionen-Massenspektronomie / Michael Gastel. [Forschungszentrum Jülich GmbH, KFA, Zentralabteilung für Chemische Analysen]
Person(en) Gastel, Michael (Verfasser)
Verlag Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibliothek
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1996
Umfang/Format 99 S. : Ill., graph. Darst. ; 30 cm
Hochschulschrift Zugl.: Düsseldorf, Univ., Diss., 1996
ISBN/Einband/Preis kart.
Identifikationsnummern Reportnummer: Jül 3248
Sachgruppe(n) 29 Physik, Astronomie ; 37 Elektrotechnik
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: 1996 B 23103
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 1996 B 23103
Bereitstellung in Leipzig




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