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Bücher
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/987801031
Titel Corruption, insecurity and technical efficiency : evidence from the Kenyan manufacturing firms / Dianah Mukwate Ngui, Claudia Becker and Walter Thomi. Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, Wirtschaftswissenschaftliche Fakultät
Person(en) Muchai, Dianah Ngui (Verfasser)
Becker, Claudia (Verfasser)
Thomi, Walter (Verfasser)
Verlag Halle : Univ., Wirtschaftswiss. Fak.
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2008
Umfang/Format 20 S. ; 30 cm
ISBN/Einband/Preis geh.
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Volkswirtschaftliche Diskussionsbeiträge ; No. 58
Anmerkungen Literaturverz. S. 18 - 20
Schlagwörter Kenia ; Korruption ; Rechtsordnung ; Risiko ; Großindustrie ; Industrie ; Frontier-Funktion
DDC-Notation 338.4567096762 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 330 Wirtschaft

Frankfurt Signatur: 2008 B 11114
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2008 B 12508
Bereitstellung in Leipzig




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