Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/987801031 |
Titel | Corruption, insecurity and technical efficiency : evidence from the Kenyan manufacturing firms / Dianah Mukwate Ngui, Claudia Becker and Walter Thomi. Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, Wirtschaftswissenschaftliche Fakultät |
Person(en) |
Muchai, Dianah Ngui (Verfasser) Becker, Claudia (Verfasser) Thomi, Walter (Verfasser) |
Verlag | Halle : Univ., Wirtschaftswiss. Fak. |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2008 |
Umfang/Format | 20 S. ; 30 cm |
ISBN/Einband/Preis | geh. |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Beziehungen | Volkswirtschaftliche Diskussionsbeiträge ; No. 58 |
Anmerkungen | Literaturverz. S. 18 - 20 |
Schlagwörter | Kenia ; Korruption ; Rechtsordnung ; Risiko ; Großindustrie ; Industrie ; Frontier-Funktion |
DDC-Notation | 338.4567096762 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 330 Wirtschaft |
Frankfurt |
Signatur: 2008 B 11114
Bereitstellung in Frankfurt |
Leipzig |
Signatur: 2008 B 12508
Bereitstellung in Leipzig |
