Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/948228873 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Study of the radiation damage in analog CMOS pipelines, MOS transistors, and MOS capacitors / vorgelegt von Stephan Böttcher. [DESY] |
| Person(en) | Böttcher, Stephan (Verfasser) |
| Verlag | Hamburg : DESY |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1996 |
| Umfang/Format | 130 Sp. : Ill., graph. Darst. ; 30 cm |
| Hochschulschrift | Zugl.: Hamburg, Univ., Diss., 1996 |
| ISBN/Einband/Preis | kart. |
| Identifikationsnummern | Reportnummer: DESY F35D 96 12 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Sachgruppe(n) | 29 Physik, Astronomie ; 37 Elektrotechnik |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 1996 B 18762
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 1996 B 18762
Bereitstellung in Leipzig |
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