Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1042899657 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Zuverlässigkeit von CMOS-Bauelementen auf SOI für den Betrieb bei 250 °C / Katharina Grella. Gutachter: Ulrich Hilleringmann. Betreuer: Holger Vogt |
| Person(en) |
Grella, Katharina (Verfasser) Vogt, Holger (Akademischer Betreuer) Hilleringmann, Ulrich (Akademischer Betreuer) |
| Verlag | Duisburg ; Essen : Universitätsbibliothek Duisburg-Essen |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2013 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Grella, Katharina: Zuverlässigkeit von CMOS-Bauelementen auf SOI für den Betrieb bei 250 °C |
| Hochschulschrift | Duisburg, Essen, Universität Duisburg-Essen, Diss., 2013 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:hbz:464-20131007-132839-0 |
| URL | http://duepublico.uni-duisburg-essen.de/servlets/DocumentServlet?id=31987 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| DDC-Notation | 621.38152 [DDC22ger]; 621.39732 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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