Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "AZAÏS" and "Michel"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1139023667 |
| Titel | Resistive Bridging Defect Detection in Bulk, FDSOI and FinFET Technologies / by Amit Karel, Mariane Comte, Jean-Marc Galliere, Florence Azais, Michel Renovell |
| Person(en) |
Karel, Amit (Verfasser) Comte, Mariane (Sonstige) Galliere, Jean-Marc (Sonstige) Azais, Florence (Sonstige) Renovell, Michel (Sonstige) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:1111-201708292256 DOI: 10.1007/s10836-017-5674-9 |
| URL | http://dx.doi.org/10.1007/s10836-017-5674-9 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2017 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of electronic testing (Bd. 33, 29.6.2017, Nr. 4, date:8.2017: 515-527) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

