Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Jan" and "Karsten"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1357979835 |
| Titel | In Situ X‐Ray Photoelectron Spectroscopy Study of Atomic Layer Deposited Cerium Oxide on SiO 2: Substrate Influence on the Reaction Mechanism During the Early Stages of Growth (Adv. Mater. Interfaces 5/2025) |
| Person(en) |
Morales, Carlos (Verfasser) Gertig, Max (Verfasser) Kot, Małgorzata (Verfasser) Alvarado, Carlos (Verfasser) Schubert, Markus Andreas (Verfasser) Zoellner, Marvin Hartwig (Verfasser) Wenger, Christian (Verfasser) Henkel, Karsten (Verfasser) Flege, Jan Ingo (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2502271434071.855202999940 DOI: 10.1002/admi.202570012 |
| URL | https://doi.org/10.1002/admi.202570012 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 27.02.2025 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Advanced materials interfaces (Bd. 12, 2025, Nr. 5. 1 S.) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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