Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Servicezeiten in Frankfurt am Main ab 1. Dezember 2025: Montag bis Freitag 9–18 Uhr und Samstag 10–16 Uhr
Service hours in Frankfurt am Main from 1 December 2025: Monday to Friday 9:00-18:00 and Saturday 10:00-16:00
 
Neuigkeiten Wegen Wartungsarbeiten ist vom 12. bis 14. Januar 2026 der Museumslesesaal, sowie vom 14. bis 16. Januar 2026 der Musiklesesaal geschlossen. // Due to maintenance work the museum reading room will be closed from 12 to 14 January 2026 and the music reading room from 14 to 16 January 2026.
 
 

Ergebnis der Suche nach: "test"

Zurück zur Trefferliste


Treffer 10 von 240 < < > <



Sachbegriffe
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/gnd/4786418-7
Sachbegriff ATPG
Quelle Abkürzungen in der Elektrotechnik
Synonyme Automatische Prüfsignalerzeugung
Automatic test pattern generation
Oberbegriffe Testmustergenerierung
DDC-Notation 621.381548
Systematik 31.9b Elektronik, Nachrichtentechnik
Typ Allgemeinbegriff (saz)
Thema in 8 Publikationen
  1. Applying advanced SAT-based techniques to circuit testing
    Burchard, Jan. - Freiburg : Universität, 2018
  2. Applying CDCL to verification and test: when laziness pays off
    Scheibler, Karsten. - Freiburg : Universität, 2017
  3. ...





Treffer 10 von 240
< < > <




Aktionen

Aktionen




E-Mail-IconAdministration