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Titel Application of the Bayes’ theory to the failure rate evaluation of electrical apparatus / by Shao-hua Jin, Jian-guo Lu, Yan-ping Wan, Shu-guang Sun
Person(en) Jin, Shao-hua (Verfasser)
Lu, Jian-guo (Sonstige)
Wan, Yan-Ping (Sonstige)
Sun, Shu-guang (Sonstige)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:1111-2016092214740
DOI: 10.1631/jzus.2007.A0501
URL http://dx.doi.org/10.1631/jzus.2007.A0501
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2007
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Zhe jiang da xue: Journal of Zhejiang University / Science A / Applied physics and engineering (Bd. 8, 1.3.2007, Nr. 3, date:3.2007: 501-505)

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