Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "102852501X"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1240547994 |
| Titel | Bias stress effect in low-voltage organic thin-film transistors / by Ute Zschieschang, R. Thomas Weitz, Klaus Kern, Hagen Klauk |
| Person(en) |
Zschieschang, Ute (Verfasser) Weitz, R. Thomas (Verfasser) Kern, Klaus (Verfasser) Klauk, Hagen (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2021090408521943727400 DOI: 10.1007/s00339-008-5019-8 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s00339-008-5019-8 (Open Access) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2008 |
| DDC-Notation | 530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Applied physics / A / Materials science & processing (Bd. 95, 1.4.2009, Nr. 1, date:4.2009: 139-145) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

