Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: swiRef=040142000
Treffer 91 von 319
|
|
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/963935496 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Charakterisierung der Nanostrukturentwicklung von ReSi2±x-Schichten in Korrelation zu deren thermoelektrischen Eigenschaften / vorgelegt von Dirk Hofman |
| Person(en) | Hofman, Dirk (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2002 |
| Umfang/Format | 106 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cm |
| Hochschulschrift | Dresden, Techn. Univ., Diss., 2002 |
| Schlagwörter |
Rheniumsilicide ; Nanostruktur ; Thermokraft ; Elektrische Leitfähigkeit Rheniumsilicide ; Nanostruktur ; Durchstrahlungselektronenmikroskopie ; Röntgenbeugung |
| Sachgruppe(n) | 35 Technik allgemein ; 29 Physik, Astronomie |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: H 2002 A 33
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: H 2002 A 33
Bereitstellung in Leipzig |
Treffer 91 von 319
Administration
