Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Art des Inhalts Norm
Titel DIN EN IEC 60749-34-1, Halbleiterbauelemente - mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 34-1, Leistungszyklusprüfung für Leistungshalbleitermodule (IEC 47/2759/CD:2022) : Text Deutsch und Englisch = Semiconductor devices - mechanical and climatic test methods. Part 34-1, Power cycling test for power semiconductor module (IEC 47/2759/CD:2022) / DIN, Deutsches Institut für Normung e.V. ; DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
Organisation(en) Deutsches Institut für Normung (Herausgebendes Organ)
Werk(e) DIN EN IEC 60749, 34-1
Ausgabe Entwurf
Verlag Berlin : DIN Media GmbH
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: August 2024
Umfang/Format 19, 19 Seiten : Illustrationen ; 30 cm
ISBN/Einband/Preis Broschur
Sprache(n) Deutsch (ger), Englisch (eng)
Beziehungen Deutsche Norm
Sachgruppe(n) 600 Technik

Frankfurt Signatur: 2024 BB 58794
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2025 BB 8260
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