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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Beitrag zur Analyse des elektrischen Verhaltens von hoch-sperrenden rückwärts leitfähigen Insulated Gate Bipolar Transistoren / Daniel Wigger ; Gutachter: Hans-Günter Eckel, Josef Lutz, Eberhard Ulrich Krafft
Person(en) Wigger, Daniel (Verfasser)
Eckel, Hans-Günter (Gutachter)
Lutz, Josef (Gutachter)
Krafft, Eberhard Ulrich (Gutachter)
Verlag Rostock : Universität Rostock
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2015
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Wigger, Daniel: Beitrag zur Analyse des elektrischen Verhaltens von hochsperrenden rückwärts leitfähigen Insulated Gate Bipolar Transistoren
Hochschulschrift Dissertation, Rostock, Universität Rostock. Fakultät für Informatik und Elektrotechnik, 2015
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:gbv:28-diss2015-0159-9
DOI: 10.18453/rosdok_id00001609
URL (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Deutsch (ger)
Schlagwörter IGBT* ; Schaltverhalten* (*maschinell ermittelt)
DDC-Notation 621.381528 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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