Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Machine Learning"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1330232534 |
| Titel | Software defect localization using explainable deep learning / Tom Ganz ; Gutachter: Konrad Rieck, Lorenzo Cavallaro, Martin Johns ; Betreuer: Konrad Rieck |
| Person(en) |
Ganz, Tom (Verfasser) Rieck, Konrad (Akademischer Betreuer) Rieck, Konrad (Gutachter) Cavallaro, Lorenzo (Gutachter) Johns, Martin (Gutachter) |
| Verlag | Berlin : Technische Universität Berlin |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2024 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Hochschulschrift | Dissertation, Berlin, Technische Universität Berlin, 2024 |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2405220157084.235098239515 DOI: 10.14279/depositonce-20402 Handle: 11303/21601 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | Maschinelles Lernen* ; Softwareentwicklung* ; Lokalisation* (*maschinell ermittelt) |
| DDC-Notation | 005.8 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 004 Informatik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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