Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1372547495 |
| Titel | Approaches to Mitigate Edge Recombination Effects in Silicon Lifetime Samples With Emitter / David Bäurle, Axel Herguth, Giso Hahn |
| Person(en) |
Bäurle, David (Verfasser) Herguth, Axel (Verfasser) Hahn, Giso (Verfasser) |
| Verlag | Konstanz : KOPS Universität Konstanz |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2025 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bsz:352-2-119iibd6yp87y5 |
| URL | https://kops.uni-konstanz.de/handle/123456789/73509 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: IEEE Journal of Photovoltaics. IEEE. 2025, 15(4), S. 518-522. ISSN 2156-3381. eISSN 2156-3403. Verfügbar unter: doi: 10.1109/jphotov.2025.3568471 |
| DDC-Notation | 537.6226 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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