Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Donnerstag, 11. September 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek öffnet wegen eines Beschäftigtentreffens an beiden Standorten erst um 15 Uhr. // Thursday, 11 September 2025: The German National Library will not open until 15:00 due to a staff meeting at both locations.
 
 

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Bücher
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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Test und Selbsttest von analogen Auswerteelektroniken bei Sensorsystemen in der Betriebsphase / von Stephan Latzel
Person(en) Latzel, Stephan (Verfasser)
Verlag Berlin : Logos
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2008
Umfang/Format X, 131 S. : graph. Darst. ; 20 cm
Hochschulschrift Zugl.: Bremen, Univ., Diss., 2008
ISBN/Einband/Preis 978-3-8325-2012-0 kart. : EUR 34.50 (DE), EUR 35.50 (AT), sfr 61.40 (freier Pr.)
EAN 9783832520120
Sprache(n) Deutsch (ger)
Schlagwörter Intelligenter Sensor ; Integrierter Sensor ; Selbsttest ; Betriebsverhalten ; Fehlersimulation ; Analogsimulation
DDC-Notation 621.381548 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: 2008 A 78146
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2008 A 101607
Bereitstellung in Leipzig




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