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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1200119320 |
| Titel | Parametric Built-In Test for 65nm RF LNA Using Non-Intrusive Variation-Aware Sensors / by Athanasios Dimakos, Haralampos-G. Stratigopoulos, Alexandre Siligaris, Salvador Mir, Emeric De Foucauld |
| Person(en) |
Dimakos, Athanasios (Verfasser) Stratigopoulos, Haralampos-G (Verfasser) Siligaris, Alexandre (Verfasser) Mir, Salvador (Verfasser) Foucauld, Emeric De (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2019112109143427737175 DOI: 10.1007/s10836-015-5534-4 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s10836-015-5534-4 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2015 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of electronic testing (Bd. 31, 25.8.2015, Nr. 4, date:8.2015: 381-394) |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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