Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1004965095 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Near field emission scanning electron microscopy / Taryl L. Kirk |
| Person(en) | Kirk, Taryl Leaton (Verfasser) |
| Verlag | Berlin : Logos-Verl. |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2010 |
| Umfang/Format | V, 85 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cm |
| Hochschulschrift | Zugl.: Zürich, Techn. Hochsch., Diss., 2010 |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-8325-2518-7 kart. : EUR 33.00 (DE), EUR 33.90 (AT), sfr 58.70 (freier Pr.) |
| EAN | 9783832525187 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Applied electron microscopy ; Bd. 9 |
| Schlagwörter | Rasterelektronenmikroskop ; Feldemissionsmikroskopie ; Nahfeld ; Festkörperoberfläche |
| DDC-Notation | 530.417 [DDC22ger]; 502.825 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Weiterführende Informationen |
Inhaltsverzeichnis Inhaltstext |
| Frankfurt |
Signatur: 2010 A 68684
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2010 A 95388
Bereitstellung in Leipzig |
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